服務創造價值、存在造就未來
基于高性能硬件處理專利技術,首創新一代的圖像并行檢測方法,最高可達640MB/秒的處理速度,檢測性能提升一倍以上。
生成式深度架構(生成模型)+判別式深度架構(判別模型)+混合深度架構(智能分類器),融合人工智能分類識別模塊,有效提高90%以上的缺陷檢測及識別率。
Bladelight光源結構、多譜光學照明、多頻并行傳感,立體顯示缺陷圖片,凸顯缺陷效果,讓產品缺陷無所遁形,極大提高了系統的缺陷檢出率和識別率。
基于多行業的成熟應用經驗,構建了完善的質量檢驗標準,具備豐富的缺陷樣本庫,減少系統調試時間,提升系統檢測效果。
標準工業模塊化設計,易于安裝、維護和升級。同時提供標準接口,可連接PLC,伺服控制器,貼標機,噴碼機等設備。